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產(chǎn)品名稱:涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

產(chǎn)品型號(hào):

更新時(shí)間:2023-12-02

產(chǎn)品特點(diǎn):涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100的詳細(xì)資料:

涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100


德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點(diǎn):

MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號(hào)均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

德國EPK(Elektrophysik)公司 技術(shù)特征



型號(hào)

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

1

1

10

99

每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值)


1

10

99

可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)


1

500

500

數(shù)據(jù)總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar


讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk



組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar



組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk



存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)




分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值



顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間


其他功能
設(shè)置極限值



連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別zui大zui小值



連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)



連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值



德國EPK(Elektrophysik)公司 可選探頭參數(shù):

所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能


探頭

量程

低端
分辨率

誤差

zui小曲率半徑
(凸/凹)

zui小測(cè)量
區(qū)域直徑

zui小基
體厚度

探頭尺寸



應(yīng)








F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm






FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm













N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm


F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

有關(guān)測(cè)厚儀應(yīng)用的詳細(xì)介紹,超聲波測(cè)厚儀, 涂層測(cè)厚儀



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MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀

麥考特MikroTest 6/G6/F6涂鍍層測(cè)厚儀

QuaNix 4500,QuaNix 4200涂層測(cè)厚儀

QuaNix 7500、QNix7500M涂層測(cè)厚儀

QuaNix 8500涂層測(cè)厚儀

QNix1500、QuaNix1500M涂層測(cè)厚儀

PosiTector 200超聲波涂層測(cè)厚儀

德國PHYNIX Surfix BFN涂層測(cè)厚儀

PosiTest DFT Combo涂層測(cè)厚儀

PosiTector 6000系列涂鍍層測(cè)厚儀

時(shí)代TT260涂層測(cè)厚儀

時(shí)代TT210涂層測(cè)厚儀

時(shí)代TT220涂層測(cè)厚儀

時(shí)代TT230涂層測(cè)厚儀

CM-8829S涂層測(cè)厚儀,CM-8828涂層測(cè)厚儀

CM-8826涂層測(cè)厚儀,ZD-B智能庫侖測(cè)厚儀,

ZD-B智能電腦型電解測(cè)厚儀,CM-8825涂層測(cè)厚儀

CM-8820涂層測(cè)厚儀,CM-8821涂層測(cè)厚儀

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